לוגו של האוניברסיטה העברית בירושלים

סילבוס

מעבדת מדידות מיקרואלקטרוניקה - 83412
English
הדפסה
 
גרסת PDF
תאריך עדכון אחרון 17-08-2023
נקודות זכות באוניברסיטה העברית: 3

תואר: בוגר

היחידה האקדמית שאחראית על הקורס: פיסיקה יישומית

סמסטר: סמסטר א'

שפת ההוראה: עברית

קמפוס: קרית א"י ספרא

מורה אחראי על הקורס (רכז): דר גלעד מרכוס

דוא"ל של המורה האחראי על הקורס: gilad.marcus@mail.huji.ac.il

שעות קבלה של רכז הקורס: בתאום מראש

מורי הקורס:
ד"ר לירון שטרן

תאור כללי של הקורס:
אפיון רכיבים בסיסיים של מיקרואלקטרוניקה: דיודות, טרנזיסטורי CMOS,טרנזיסטור ביפולרי, SCR. הניסויים יכללו מדידות ביצועי ההתקנים ותלותם בפרטי המבנה של ההתקנים ותנאי הפעלתם.

מטרות הקורס:
ידע בסיסי במדידות אלקטרוניות ומדידות רכיבים

תוצרי למידה :
בסיומו של קורס זה, סטודנטים יהיו מסוגלים:

לאפיין רכיבים בסיסיים כמו דיודות CMOS וטרנזיסטורים

דרישות נוכחות (%):
100

שיטת ההוראה בקורס: דוח מקדים
ביצוע ניסויים וכתיבת דוח מסכם

רשימת נושאים / תכנית הלימודים בקורס:
ראה מטרות הקורס

חומר חובה לקריאה:
בהתאם להנחיות מדריכי המעבדה

חומר לקריאה נוספת:
NA

מרכיבי הציון הסופי :
השתתפות פעילה / עבודת צוות % 40
מטלות הגשה במהלך הסמסטר: תרגילים / עבודות / מבדקים / דוחות / פורום / סימולציה ואחרות % 50
הערכת מנחה אישי / המדריך / הצוות % 10

מידע נוסף / הערות:
הרכב הציון:
10% דוח מקדים
40% איכות הניסוי
50% דוח מסכם
 
אם הינך זקוק/ה להתאמות מיוחדות בשל לקות מתועדת כלשהי עמה את/ה מתמודד/ת, אנא פנה/י ליחידה לאבחון לקויות למידה או ליחידת הנגישות בהקדם האפשרי לקבלת מידע וייעוץ אודות זכאותך להתאמות על סמך תעוד מתאים.
למידע נוסף אנא בקר/י באתר דיקנט הסטודנטים.
הדפסה